白皮书:测试和测量

设计EMI测试

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如今,研发工程师面临着挑战的上市时间目标。扩展产品开发时间表并延迟产品发布可以在机会成本和市场份额失去的情况下非常昂贵。近50%的产品首次失败EMC合规性。

每天都花在调试,隔离和纠正EMI问题上增加了上市的时间。丢失的时间可以被用来用于另一个项目或改善设计。

为了解决这些挑战,在产品设计周期中执行EMI测试是有意义的,以减少失败EMC合规性的可能性,这通常在产品的开发周期结束时出现。在开发周期中定期修复EMI问题的成本可以证明是昂贵的。集成到设计周期检查点的预防措施可以帮助避免昂贵的项目延迟。

大多数情况下,如果并非所有研发工程师都在其产品设计周期中使用示波器捕获波形,验证串行总线和调试不需要的信号。添加使用示波器执行EMI测试的能力将消除购买其他设备的需要。

过去,由于FFT限制,示波器与EMI测试通常不相关。然而,与R&S®RTO/ RTE数字奥斯密拉镜传动改变,这些诺斯科镜头与业界领先的FFT数字下变频和重叠FFT的实现。

此逐步指南引导您通过三个重要步骤来利用

R&S®RTO/ RTE数字示波器的独特功能,并在产品设计周期中进行EMI测试:定位,捕获和分析不同相关性和策略的排放。

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